Innovationen aus Thüringen
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Das Jenaer Technologie-Unternehmen ZEISS hat kürzlich das erste Gerät der neuen Cross-
beam-Serie präsentiert. Dabei handelt es sich um ein spezielles Rasterelektronen-Mikroskop,
das mit einer Ionenstrahl-Säule arbeitet. Fachleute sprechen von einem FIB-SEM. Es zeich-
net sich besonders durch seine hohe Geschwindigkeit bei der Materialanalyse und -bearbei-
tung sowie die große Applikationsvielfalt aus. So ist es Forschern möglich, Tomographie-
serien, die bislang mehrere Tage dauerten, über Nacht zu erstellen.
ZEISS setzt Maßstäbe in Material-
bearbeitung und Bildgebung
Die neu entwickelte fokussierte Ionen-
strahl-Säule (FIB) ermöglicht einen
schnellen und präzisen Materialauf-
und -abtrag bei gleichzeitiger Bildge-
bung mit dem Feldemissions-Raster-
elektronenmikroskop (FE-SEM). Eine
hohe Auflösung über den gesamten
Spannungs- und Strombereich erlaubt
Nutzern, schnell und präzise zu arbei-
ten. Das stabile System sorgt für repro-
duzierbare Ergebnisse auch bei Lang-
zeit-Experimenten.
Das Anwendungsgebiet wird zudem
durch den optional verfügbaren Massive
Ablation Laser erweitert, der zur Pro-
ben-Präparation eingesetzt wird und
sehr schnell tiefliegende Bereiche der
Probe freilegt.
Crossbeam ist für die Anwendung so-
wohl in den Material- als auch Biowis-
senschaften geeignet. Materialwissen-
schaftler profitieren von den ausge-
zeichneten 3D-Analytik-Eigenschaften,
der Fähigkeit, magnetische und nicht-
leitende Proben in Höchstauflösung ab-
zubilden, sowie den einzigartigen Mate-
rialkontrasten.
Biowissenschaftler können Crossbeam
vor allem für schnelle Tomographie-
serien mit hoher Z-Auflösung in der
Zell- und Gewebebiologie nutzen.
Das STEM-Detektionsmodul liefert zu-
sätzliche strukturelle Informationen.
Das System bietet automatisierte Work-
flows, zum Beispiel zur TEM-Lamellen-
Präparation. Gleichzeitig haben Anwen-
der durch die offene Software die
Möglichkeit, eigene Applikationen zu
integrieren und zu automatisieren. Der
modulare Aufbau von Crossbeam macht
es zu einer offenen 3D-Nano-Worksta-
tion, die sich für verschiedenste Ein-
satzzwecke einrichten und nachrüsten
lässt und dem Anwender so größte Fle-
xibilität ermöglicht.
Das Mikroskopsystem ist in zwei Ver-
sionen verfügbar. Die GEMINI I VP (va-
riable pressure) Säule von Crossbeam
340 bietet optimale Analysebedingun-
gen für in-situ-Experimente mit ausga-
senden und sich aufladenden Proben.
Dank der GEMINI II Säule mit Doppel-
kondensorsystem profitieren Nutzer von
Crossbeam 540 von mehr Informatio-
nen in kürzerer Zeit. Das System liefert
eine hohe Auflösung selbst bei geringer
Spannung und hoher Stromstärke. Dies
erlaubt schnelle Analytik und einfache
Bedienbarkeit.
In Verbindung mit einem ZEISS Xradia
Röntgenmikroskop (XRM) bietet Cross-
beam die Möglichkeit zur vollständigen
Probenanalyse über mehrere Größen-
ordnungen hinweg.
Das Röntgenmikroskop liefert vorab ei-
ne 3D-Abbildung der Probe, ohne sie zu
zerstören, ehe dann die als interessant
identifizierten Bereiche mit dem fokus-
sierten Ionenstrahl bearbeitet und mit
dem Elektronenstrahl analysiert wer-
den.
Text und Foto: Zeiss
